Pomiary profili głębokościowych metodą spektrometrii mas jonów wtórnych dla 60 próbek
- Publikacja
- 18 wrz 2024
- Rodzaj zamówienia
- Usługi
- Wykonawca
- Siecią Badawczą Łukasiewicz – Instytutem Mikroelektroniki i Fotoniki,
Przedmiot
Pomiary profili głębokościowych metodą spektrometrii mas jonów wtórnych dla 60 próbek
Źródło: eZamówienia (Biuletyn Zamówień Publicznych) ↗
Jeśli strona jest pusta: ogłoszenie mogło zostać zarchiwizowane przez portal – wyszukaj je po numerze w eZamówieniach.