Dostawa urządzenia do pomiaru właściwości cienkich warstw metodą elipsometrii spektroskopowej
- Zamawiający
- POLITECHNIKA WARSZAWSKA
- Publikacja
- 9 gru 2025
- Rodzaj zamówienia
- Dostawy
- Wykonawca
- Labsoft Sp. z o.o.
Przedmiot
Dostawa urządzenia do pomiaru właściwości cienkich warstw metodą elipsometrii spektroskopowej
Źródło: eZamówienia (Biuletyn Zamówień Publicznych) ↗
Jeśli strona jest pusta: ogłoszenie mogło zostać zarchiwizowane przez portal – wyszukaj je po numerze w eZamówieniach.